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梅特勒分析天平 XS105DU 双量程 高精度

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XS105 DualRange 梅特勒双量程分析天平,最大量程是120g,精度万分之一,最小量程是41g,精度是十万分之一,梅特勒原装进口双量程内校分析天平
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